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    開爾文探針Kelvin Probe
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    環(huán)境受控掃描開爾文探針

    掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函數(shù)或半導(dǎo)體材料表面電勢，表面功函數(shù)是由材料表面外層的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV分辨率的掃描測試系統(tǒng)。




    主要特點：
    ● 功函分辨率：優(yōu)于 3meV
    ● 掃描面積：50mm to 300mm
    ● 掃描分辨率：317.5nm
    ● 自動高度調(diào)節(jié)

    應(yīng)用領(lǐng)域：
    ● 有機和非有機半導(dǎo)體
    ● 金屬
    ● 薄膜
    ● 太陽能電池和有機光伏材料
    ● 腐蝕







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